发明名称 Device for measuring potential differences.
摘要 <p>Um mit einer Anordnung zur Messung von Potentialdifferenzen in Leitern 2. Klasse möglichst ohne Störpotentiale messen zu können, weisen der Potentialgenerator (IE) und ein einen Indikator enthaltender, elektrisch hochisolierender, chemisch inerter Potentialmessraum (M), dessen Indikator mit einer Änderung seiner optischen Eigenschaften auf eine elektrische Potentialdifferenz reagiert, jeweils eine Grenzfläche mit dem Leiter 2. Klasse auf, ein Ausgleichsleiter (RL2) verbindet den Potentialgenerator (IE) und den Potentialmessraum (M) und es ist eine Lichtmesseinrichtung (M10,M20) zur Messung der Änderung der optischen Eigenschaften des Indikators vorgesehen.</p>
申请公布号 EP0116826(A1) 申请公布日期 1984.08.29
申请号 EP19840100108 申请日期 1984.01.07
申请人 MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. 发明人 OPITZ, NORBERT, DR.;LUBBERS, DIETRICH WERNER, PROF. DR.
分类号 G01N21/77;G01N27/416;G01R19/10;(IPC1-7):01N27/28;01N21/25;01N21/64 主分类号 G01N21/77
代理机构 代理人
主权项
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