THINNING OF SPECIMENS FOR EXAMINATION UNDER THE ELECTRON MICROSCOPE,申请号GB19820007950-传众专利搜索

发明名称	THINNING OF SPECIMENS FOR EXAMINATION UNDER THE ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号	GB2095857(B)	申请公布日期	1984.08.08
申请号	GB19820007950	申请日期	1982.03.18
申请人	ION TECH LTD	发明人
分类号	G01N1/32;H01J37/305;(IPC1-7):G01N1/28	主分类号	G01N1/32
代理机构		代理人
主权项
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