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发明名称 CIRCUIT FOR TESTING CELLS OF AN INTEGRATED SEMICONDUCTOR PROGRAMMABLE MEMORY
摘要
申请公布号 EP0046215(A3) 申请公布日期 1984.04.25
申请号 EP19810105922 申请日期 1981.07.27
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 GIEBEL, BURKHARD, DIPL.-ING.;MOORMANN, HANS, DR.RER.NAT., DIPL.-PHYS.;SCHRADER, LOTHAR, DR.RER.NAT.
分类号 G01R31/26;G06F12/16;G11C29/00;G11C29/06;G11C29/34;G11C29/46;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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