发明名称 Method of manufacturing a monolithic integrated circuit.
摘要 Bei der Herstellung einer monolithisch integrierten Halbleiter-schaltung mit wenigstens zwei übereinander angeordneten Leitbahnebenen wird die jeweils zuletzt aufgebrachte strukturierte Metallisierung zunächst mit einer Polyimidschicht und letztere mit einer - durch Plasmaentladung erzeugten - Siliciumnitridschicht abgedeckt. Diese wird als Träger der neu aufzubringenden Leiterbahnebene verwendet. Auf diese Weise werden Unterbrechungen an den Überkreuzungsstellen von Leitbahnen, insbesondere aus Aluminium, vermieden. Außerdem wird das Haftvermögen im Vergleich zu unmittelbar auf einer Polyimidunterlage aufgebrachten Leiterbahnen verbessert.
申请公布号 EP0103879(A1) 申请公布日期 1984.03.28
申请号 EP19830109272 申请日期 1983.09.19
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 EGGERS, HARALD, DIPL.-ING.;GLASL, ANDREAS, DIPL.-PHYS.;KERSCHBAUM, MANFRED, DIPL.-ING.
分类号 H01L21/302;H01L21/3065;H01L21/31;H01L21/318;H01L21/768;H01L23/522;H01L23/532;(IPC1-7):01L21/90;01L23/52 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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