发明名称 |
Reversal process for the production of chromium masks. |
摘要 |
<p>Bei dem Verfahren wird auf ein mit einer Chromschicht (2) beschichtetes Substrat (1) eine Positivlackschicht (3) aufgebracht, durch eine Belichtungsmaske, welche ein Maskenmuster aufweist, welches dem Negativ des gewünschten Musters aus Chrom entspricht, belichtet, entwickelt, und ganzflächig mit einer <= 10 nm dicken Schicht (4) aus Siliciumdioxid beschichtet. Dann wird die Photolackschicht (3) und die auf ihr liegende Siliciumdioxidschicht (4) abgehoben und schließlich die Chromschicht (2) trockengeätzt, wobei die noch vorhandene Siliciumdioxidschicht (4) als Ätzmaske dient. Chrommasken werden beispielsweise bei der Herstellung von Halbleiterschaltungen eingesetzt. Mit dem Umkehrprozeß lassen sich Strukturen, deren kleinste Abmessungen im Mikrometer- und Submikrometerbereich liegen, scharfkantig in Chromschichten übertragen.</p> |
申请公布号 |
EP0101752(A1) |
申请公布日期 |
1984.03.07 |
申请号 |
EP19820107797 |
申请日期 |
1982.08.25 |
申请人 |
IBM DEUTSCHLAND GMBH;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
BOCK, GUNTER;HAFNER, BERNHARD;MUHL, REINHOLD;THIEL, KLAUS PETER |
分类号 |
C23F1/00;G03F1/68;G03F1/80;G03F7/26;H01L21/027;H01L21/302;H01L21/3065;(IPC1-7):03F7/00;01L21/308 |
主分类号 |
C23F1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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