发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF D'AUTO-TEST POUR APPAREIL ELECTRONIQUE
摘要 <P>L'INVENTION CONCERNE UN PROCEDE ET UN DISPOSITIF POUR TESTER UN SYSTEME LORSQUE LEDIT SYSTEME EST ALIMENTE PAR UNE GAMME ETENDUE DE TENSIONS D'ALIMENTATION EN PLUS DE LA TENSION NOMINALE.</P><P>CET APPAREIL EST CARACTERISE EN CE QU'IL EST CONSTITUE D'UNE PART DE PREMIERS ORGANES DE 10B A 10E RELIES A UN DISPOSITIF SOUS TEST 10A ET DESTINES A CREER UN PREMIER SIGNAL DE SORTIE ET UN DEUXIEME SIGNAL DE SORTIE, D'AUTRE PART, DE SECONDS ORGANES 12 RELIES AUXDITS PREMIERS ORGANES 10B, 10E ET AUDIT DISPOSITIF SOUS TEST 10A ET REPONDANT AUXDITS PREMIER ET SECOND SIGNAUX DE SORTIE PROVENANT DESDITS PREMIERS ORGANES EN VUE DE CREER UN SIGNAL NOMINAL LORSQU'ILS NE SONT PAS ACTIVES PAR LESDITS PREMIER ET SECOND SIGNAUX DE SORTIE.</P><P>CET APPAREIL EST APPLICABLE A LA VERIFICATION DES COMPOSANTS ET DES CIRCUITS DES APPAREILS ELECTRONIQUES.</P>
申请公布号 FR2532056(A1) 申请公布日期 1984.02.24
申请号 FR19830013582 申请日期 1983.08.23
申请人 TEKTRONIX INC 发明人 KEITH WAYNE PARKER
分类号 G01R31/30;G01R31/3161;(IPC1-7):G01R31/30 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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