发明名称 Dry resist development using downstream plasma generation.
摘要 <p>A method for the dry development of photoresist. The photoresist coating of a silicon wafer is developed by the chemical reaction with the active species of a remotely generated plasma.</p>
申请公布号 EP0100079(A2) 申请公布日期 1984.02.08
申请号 EP19830107228 申请日期 1983.07.22
申请人 THE PERKIN-ELMER CORPORATION 发明人 REINBERG, ALAN R.;STEINBERG, GEORGE N.;ZAROWIN, CHARLES B.
分类号 G03F7/30;G03F7/36;(IPC1-7):03F7/26 主分类号 G03F7/30
代理机构 代理人
主权项
地址