| 摘要 |
L'ENSEMBLE DE TEST COMPORTE UNE UNITE DE BASE STANDARD 10 AVEC UNE UNITE CENTRALE 100, UNE MEMOIRE MORTE 110 CONTENANT LES PROGRAMMES RELATIFS AU FONCTIONNEMENT DE BASE DE L'UNITE DE TEST, UNE MEMOIRE VIVE 120 POUR L'ENREGISTREMENT DE PROGRAMMES DE TEST TRANSMIS DEPUIS UNE MEMOIRE DE MASSE 11 ET DES INTERFACES 130, 140, 160; L'UNITE DE BASE EST RELIEE A LA CARTE A TESTER 10 PAR L'INTERMEDIAIRE D'UNE UNITE SPECIFIQUE 20 CORRESPONDANT A LA CARTE A TESTER; UN DISPOSITIF DE SIMULATION COMPREND UN CIRCUIT 160, 260 DE SIMULATION DE MICROPROCESSEUR RELIE AUX BUS 150 DE L'UNITE DE BASE ET A UNE PRISE 50 DESTINEE A ETRE BRANCHEE SUR LES BORNES DE RACCORDEMENT D'UN BOITIER DE MICROPROCESSEUR DANS LE CAS DU TEST D'UNE CARTE A MICROPROCESSEUR; L'ENSEMBLE DE TEST PERMET DE REALISER UN TEST STATIQUE ET UN TEST DYNAMIQUE FONCTIONNEL EN TEMPS REEL. |
