| 发明名称 |
FLAW INSPECTION APPARATUS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06249791(A) |
申请公布日期 |
1994.09.09 |
| 申请号 |
JP19930061040 |
申请日期 |
1993.02.25 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI ELECTRON ENG CO LTD |
发明人 |
SHIGYO YOSHIHARU;MIYAMOTO YOSHIYUKI;NAOHARA HIROSHI |
| 分类号 |
G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 |
主分类号 |
G01N21/88 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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