PAD FOR ACCELERATED MEMORY TEST

摘要

Dans une mémoire matricielle de cellules capacitives de stockage (22) ayant une première (26) et une seconde (14) couches de polysilicium, un test accéléré permettant de détecter des défauts dans des couches d'isolation entre le substrat (32) et la première couche de polysilicium (26) et entre la première couche de polysilicium (26) et la seconde couche de polysilicium (14) est rendu possible en connectant un bloc de test (30) à la connexion entre la première couche de polysilicium (26) et une résistance (12). Le test est en outre facilité en remplaçant la résistance normalement diffusée par une résistance de polysilicium (12).