ELECTRON-OPTICAL WIDE BAND SIGNAL MEASUREMENT SYSTEM

摘要

Des signaux électriques sont mesurés (analysés et affichés) avec une sensibilité et une résolution en picosecondes dans la gamme du microvolt (moins de 100 microvolts) par échantillonnage opto-électronique du signal. Des salves d'électrons d'échantillonnage sont produites en réponse à un train d'impulsions optiques de souspicosecondes. Un faisceau de ces salves d'électrons échantillonne des parties successives du signal pendant sa transmission sous la forme d'une onde progressive le long de plaques de déflexion (29, 31) qui jouent le rôle d'une ligne de transmission. Les salves d'électrons sont déviées selon l'amplitude des parties successives du signal et sont transformées en spots ou points lumineux, sur un écran de phosphore (27). La déflexion est sensiblement plus petite que le diamètre du point lumineux. La déviation du spot par rapport à sa position en l'absence du signal sur les plaques de déflexion (29, 31) est transformée en une sortie différentielle. Le signal à analyser est généré, de manière synchrone avec les impulsions optiques, pour se propager le long des plaques de déflexion (29, 31), avec un retard par rapport à celles-ci. Le signal est induit optiquement en utilisant un faisceau séparé d'impulsions optiques qui est haché comme on le désire en impulsions optiques. La sortie différentielle est traitée, de préférence par un détecteur à sensibilité de phase (76) et un dispositif effectuant la moyenne des signaux (78); le détecteur à sensibilité de phase est synchronisé avec l'opération consistant à hacher le faisceau en impulsions optiques, et il est affiché sur une base de temps synchrone avec le retard variable des impulsions optiques. En conséquence, le signal est affiché (72) sur une échelle de temps allongée dans le but d'effectuer des mesures et autres analyses.