| 发明名称 |
MEASURING ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC CIRCUITS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
YU281780(A) |
申请公布日期 |
1983.10.31 |
| 申请号 |
YU19800002817 |
申请日期 |
1980.11.04 |
| 申请人 |
INST PRUEFFELD FUER ELEKTRISCHE HOCHLEIST TECHNIK;TRANSFORM ROENTGEN MATERN VEB |
发明人 |
ERMISCH J.;BRENDLER W. |
| 分类号 |
G01R15/18;G01R17/06;G01R19/00;H01F38/32;(IPC1-7):H01F40/08 |
主分类号 |
G01R15/18 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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