首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
申请公布号
SU1051622(A1)
申请公布日期
1983.10.30
申请号
SU19823406214
申请日期
1982.03.03
申请人
NOVIKOV GENNADIJ N,SU;ZHERDIENKO YURIJ A,SU
发明人
NOVIKOV GENNADIJ N,SU;ZHERDIENKO YURIJ A,SU
分类号
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
一种船用可弯折垂直轴风力发电机
一种人类声纹生物密钥生成方法
集成凸轮轴
一种加压协同复合酶法缩短玉米浸泡时间的方法
一种适于对具有复杂内腔结构的工件进行涂层的方法
一种铣削工艺参数优化方法
一种枯草芽孢杆菌及微生物菌剂和它们在生态修复中的用途
高复用性的云存储数据存储验证方法及系统
压缩机及具有该压缩机的制冷系统
大型燃煤机组集中制冷设备及其制冷方法
承载建立的预授权
能调整偏心距的曲柄连杆传动机构及冲床主传动系统
供听力衰退人群使用的可视对讲设备
基于Cell的室内移动终端定位方法
一种基于概率单词选择和监督主题模型的文本分类方法
基于嵌入式系统的遗留物和遗失物实时检测方法
一种DSL宽带质量自动优化方法
一种全轨道16Kbps遥测数据多路径下传系统
一种宽带带通滤波器
分布式光纤测温系统