| 摘要 |
Przedmiotem wynalazku jest układ do pomiaru termosiły materiałów warstwowych o grubościach od pojedynczych nanometrów do kilkudziesięciu mikrometrów, w szczególności umieszczonych na podłożu o słabym przewodnictwie cieplnym, znacznie mniejszym od przewodnictwa cieplnego warstw. W układzie badana warstwa umieszczona jest na podłożu izolacyjnym, którego jeden ze skrajnych obszarów umieszczony jest na bloku izotermicznym osadzonym na elemencie grzejnym, a drugi na drugim bloku izotermicznym osadzonym na elemencie chłodzącym, pomiędzy tymi blokami zaś umieszczony jest izolator cieplny, zaś do badanej warstwy (1) do obszaru podgrzewanego i do obszaru schładzanego, pary elektrod (6a, 6b, 7a, 7b) wykonanych z materiałów termoelektrycznych, tworzących termopary o rozdzielonych końcach, doprowadzone są punktowo do elektrycznego kontaktu z badaną warstwą (1). |
