发明名称 VERFAHREN ZUM HERSTELLEN VON INTEGRIERTEN MOS-FELDEFFEKTTRANSISTORSCHALTUNGEN IN SILIZIUMGATE-TECHNOLOGIE MIT SILIZID BESCHICHTETEN DIFFUSIONSGEBIETEN ALS NIEDEROHMIGE LEITERBAHNEN
摘要
申请公布号 DE3211761(A1) 申请公布日期 1983.10.06
申请号 DE19823211761 申请日期 1982.03.30
申请人 SIEMENS AG 发明人 SCHWABE,ULRICH,DR.PHIL.;NEPPL,FRANZ,DIPL.-PHYS.DR.;HIEBER,KONRAD,DIPL.-PHYS.DR.
分类号 H01L29/78;H01L21/28;H01L21/285;H01L21/336;H01L21/768;H01L29/45;H01L29/49;(IPC1-7):H01L21/72;H01L21/90 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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