发明名称 Apparatus generating test signals for electronic equipment.
摘要 <p>Le dispositif selon l'invention comprend, des moyens (1) de mémorisation des signaux de test sous la forme d'échantillons numériques couplés à un convertisseur (2) numérique-analogique pour transformer les échantillons mis sous forme numérique en signaux analogiques à la sortie du dispositif, une mémoire (4) à lecture-écriture interposée entre le convertisseur numérique-analogique et les moyens de mémorisation, un calculateur (5) coupé aux moyens de mémorisation et à la mémoire (4) à lecture-écriture comprenant: - des moyens (14, 15, 16) de création de signaux de test sous la forme d'échantillons numériques - des moyens (6) pour transférer, à l'intérieur de la mémoire à lecture-écriture, les échantillons mémorisés à l'intérieur des moyens de mémorisation et les signaux de test créés par les moyens de création, ainsi que des moyens (3) pour synchroniser le transfert des échantillons mémorisés à l'intérieur de la mémoire lecture-écriture à destination du convertisseur numérique-analogique.</p>
申请公布号 EP0089871(A1) 申请公布日期 1983.09.28
申请号 EP19830400501 申请日期 1983.03.11
申请人 THOMSON-CSF 发明人 PHAM VAN CANG, LUC
分类号 H04N17/00;H04B17/00;H04N17/02;(IPC1-7):04N9/62 主分类号 H04N17/00
代理机构 代理人
主权项
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