摘要 |
<P>POUR MESURER LES QUANTITES DE CHARGES ELECTRIQUES 2 PORTEES PAR UNE FACE S D'UNE FEUILLE DIELECTRIQUE 1, ON A RECOURS A UN DISPOSITIF COMPORTANT UNE PREMIERE ELECTRODE OU SONDE 3 DISPOSEE EN REGARD DE LA FACE S, UNE SECONDE ELECTRODE 4 DISPOSEE CONTRE L'AUTRE FACE DE CETTE FEUILLE, DES MOYENS F POUR FAIRE DEFILER LA FEUILLE DEVANT LA SONDE ET DES MOYENS 5 POUR MESURER LES CHARGES 6 INDUITES SUR CETTE SONDE. EN OUTRE, A L'AIDE DE MOYENS ACOUSTIQUES, OPTIQUES OU ELECTROMAGNETIQUES, ON FAIT SUBIR A LA FEUILLE DES DEFORMATIONS LOCALISEES SUR UNE PLAGE P TRES PETITE (DE SURFACE INFERIEURE A CELLE DEFINISSANT LA RESOLUTION SPATIALE DE LA MESURE), PENDANT DES TEMPS TRES COURTS ET REPETES A UNE FREQUENCE SUFFISANTE POUR QUE LES PLAGES SUCCESSIVEMENT DEFORMEES DE LA FEUILLE SE CHEVAUCHENT.</P>
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