Circuit for testing electrical devices, especially electronic ones.

摘要

Ein an einem ersten Bussystem (ACD) angeschlossener Rechner (R) ist über eine Bustrenneinrichtung (BT) mit einem zweiten Bussystem (A'C'D') verbunden. Ein erster Speicher (S1) ist am ersten Bussystem (ACD) angeschlossen und damit für den Rechner (R) dauernd verfügbar. Ein zweiter Speicher (S2) ist am zweiten Bussystem (A'C'D') angeschlossen und über die Bustrenneinrichtung (BT) nur zeitweise mit dem Rechner (R) verbunden. Der Rechner (R) erzeugt (7) aufgrund eines Prüfprogrammes Prüfworte und schreibt diese bei durchgeschalteter Bustrenneinrichtung (BT) in den zweiten Speicher (S2). Hernach werden die Bussysteme (ACD, A'C'D') getrennt. Eine am zweiten Bussystem (A'C'D) angeschlossene Eingabe-/Ausgabeeinrichtung (EA2) überträgt die im zweiten Speicher (S2) abgelegten Prüfworte zu einem Prüfling (P) und schreibt die vom Prüfling (P) abgegebenen Prüfdaten in den zweiten Speicher (S2). Währenddessen kann der Rechner (R) beliebige - beispielsweise auch vom Prüfvorgang unabhängige - Aufgaben ausführen. Nach Ablauf des Prüfvorganges werden die beiden Bussysteme (ACD,A'C'D') auf Befehl des Rechners (R) miteinander verbunden, so dass die vom Prüfling (P) abgegebenen und im zweiten Speicher (S2) gespeicherten Prüfdaten vom Rechner (R) ausgewertet werden können.