首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 METHOD OF AND APPARATUS FOR MEASURING PRESSURE IN SEMICONDUCTOR TYPE SPECTROMETRIC IONIZING RADIATION HEADS
摘要
申请公布号 PL126536(B1) 申请公布日期 1983.08.31
申请号 PL19790219797 申请日期 1979.11.21
申请人 发明人
分类号 G01L;G01L21/10;(IPC1-7):G01L21/10 主分类号 G01L
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com