| 摘要 |
<p>Dispozitiv pentru analiza cu raze X a materialelor monocristaline, caracterizat prin aceea ca este realizat într-o forma sferica, punctul de impact al fasciculului incident de raze X cu proba monocristalului de analizat fiind situat în centrul sferei si este prevazut cu doua diagrame care contin substante fotosensibile la reflexiile radiatiilor X, de forma semisferice situate în interiorul sau, dintre care una, situata în fata fasciculului incident, este de forma convexa si înregistreaza petele de difractie potrivit metodei si functiei de transmisie, iar cealalta de forma concava, când substanta fotosensibila este în interior, înregistreaza petele de difractie conform metodei si functiei de reflexie, ambele respectând relatia Wolf-Bragg.</p> |
