| 发明名称 |
Device and method for the functional testing of an electrical word-programmable memory. |
| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Funktionsprüfung eines elektrisch wortweise umprogrammierbaren Speichers (10) mit Speichertransistoren (11) aufweisenden Speicherzellen (20 bis 43), bei dem während der Funktionsprüfung die Breite der Lesefenster der Speichertransistoren (11) im Vergleich zum Normalbetrieb reduziert wird.
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| 申请公布号 |
EP0086361(A2) |
申请公布日期 |
1983.08.24 |
| 申请号 |
EP19830100648 |
申请日期 |
1983.01.25 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
SCHRENK, HARTMUT, DR., DIPL.-PHYS. |
| 分类号 |
G11C17/00;G11C29/00;G11C29/50;G11C29/56;(IPC1-7):G11C17/00 |
主分类号 |
G11C17/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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