METHOD OF CHECKING SEMICONDUCTOR DEVICE FAULT,申请号SU19802915238-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF CHECKING SEMICONDUCTOR DEVICE FAULT
摘要
申请公布号	SU1035537(A1)	申请公布日期	1983.08.15
申请号	SU19802915238	申请日期	1980.04.25
申请人	BYRIN VLADISLAV N,SU;TSELEMETSKIJ VITALIJ A,SU;YASAKOV GENNADIJ S,SU	发明人	BYRIN VLADISLAV N,SU;TSELEMETSKIJ VITALIJ A,SU;YASAKOV GENNADIJ S,SU
分类号	G01R31/27;G01R31/00;(IPC1-7):G01R31/00	主分类号	G01R31/27
代理机构		代理人
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