| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DEFORMATION OF WAVE SURFACE BY OPTICAL DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS58127133(A) |
申请公布日期 |
1983.07.28 |
| 申请号 |
JP19820195189 |
申请日期 |
1982.11.06 |
| 申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE |
发明人 |
BERUNAARU PIKAARU |
| 分类号 |
G01J9/00;G01J9/04;G01M11/00 |
主分类号 |
G01J9/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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