PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER LES DISTANCES INTERPLANAIRES DANS DES IMAGES DE DIFFRACTION D'ELECTRONS

摘要

A.PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER LES DISTANCES INTERPLANAIRES DANS DES IMAGES DE DIFFRACTION D'ELECTRONS.

B.PROCEDE CARACTERISE PAR L'UTILISATION DE SON AIGUILLE 2 (ELEMENT D'ARRET DE FAISCEAU) OU ACCESSOIRE SIMILAIRE, DES APPAREILS DE MESURE DE TRANSLATION 6 ET D'ANGLE DE ROTATION 7 POUVANT COMPORTER UN MICROPROCESSEUR 8, UN ELEMENT D'AFFICHAGE ETOU UNE IMPRIMANTE 9, CET ENSEMBLE PERMETTANT LA DETERMINATION DES DISTANCES INTERPLANAIRES ET DES RELATIONS ANGULAIRES DANS DES IMAGES DE DIFFRACTION D'ELECTRONS PAR LE POSITIONNEMENT DE L'OMBRE DE LA POINTE DE L'AIGUILLE SUR CHACUN DES POINTS INTERESSES DE LA DIFFRACTION.

C.DISPOSITIF APPLICABLE A UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE.