发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A FERROMAGNETIC LAYER |
摘要 |
Un procédé de mesure de l'épaisseur d'une couche ferromagnétique, mis en oeuvre à l'aide d'un dispositif de mesure de l'épaisseur d'une couche ferromagnétique, consiste à magnétiser la couche ferromagnétique (6) avec un champ magnétique local non-uniforme généré à partir d'une zone (3) de non-uniformité magnétique du shunt magnétique (2) d'un système magnétique (1). Ensuite, la réaction du champ magnétique local non-uniforme de la zone (3) de non-uniformité magnétique sur le champ magnétique de la couche ferromagnétique (6) est mesurée et l'épaisseur de la couche ferromagnétique (6) est déterminée par lecture d'un indicateur (7). |
申请公布号 |
WO8301302(A1) |
申请公布日期 |
1983.04.14 |
申请号 |
WO1982SU00029 |
申请日期 |
1982.08.31 |
申请人 |
VNII PO RAZ |
发明人 |
MAIZENBERG, MIKHAIL, IOSIFOVICH;MOSHKOVICH, VLADIMIR, USHEROVICH;KAPLAN, MIKHAIL, DANILOVICH;BOBROV, VLADIMIR, TIMOFEEVICH |
分类号 |
G01B7/06;G01B7/00;(IPC1-7):01B7/06 |
主分类号 |
G01B7/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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