发明名称 METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF A FERROMAGNETIC LAYER
摘要 Un procédé de mesure de l'épaisseur d'une couche ferromagnétique, mis en oeuvre à l'aide d'un dispositif de mesure de l'épaisseur d'une couche ferromagnétique, consiste à magnétiser la couche ferromagnétique (6) avec un champ magnétique local non-uniforme généré à partir d'une zone (3) de non-uniformité magnétique du shunt magnétique (2) d'un système magnétique (1). Ensuite, la réaction du champ magnétique local non-uniforme de la zone (3) de non-uniformité magnétique sur le champ magnétique de la couche ferromagnétique (6) est mesurée et l'épaisseur de la couche ferromagnétique (6) est déterminée par lecture d'un indicateur (7).
申请公布号 WO8301302(A1) 申请公布日期 1983.04.14
申请号 WO1982SU00029 申请日期 1982.08.31
申请人 VNII PO RAZ 发明人 MAIZENBERG, MIKHAIL, IOSIFOVICH;MOSHKOVICH, VLADIMIR, USHEROVICH;KAPLAN, MIKHAIL, DANILOVICH;BOBROV, VLADIMIR, TIMOFEEVICH
分类号 G01B7/06;G01B7/00;(IPC1-7):01B7/06 主分类号 G01B7/06
代理机构 代理人
主权项
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