| 发明名称 |
APPARATUS FOR DETERMINING THICKNESS VARIATIONS ACROSS ELECTRICALLY CONDUCTIVE MATERIAL |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US3535631(A) |
申请公布日期 |
1970.10.20 |
| 申请号 |
USD3535631 |
申请日期 |
1967.05.15 |
| 申请人 |
GEVAERT AGFA NV. |
发明人 |
WILFRIED FLORENT DE GEEST;JOSEPHUS CYRILLUS EEMAN |
| 分类号 |
G01R27/02;(IPC1-7):G01R27/02 |
主分类号 |
G01R27/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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