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发明名称 TESTING OF INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 GB2058366(B) 申请公布日期 1983.03.30
申请号 GB19800024411 申请日期 1980.07.25
申请人 POST OFFICE 发明人
分类号 G01R31/30;G01R31/3193;G06F11/277;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
主权项
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