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发明名称 TESTER FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICES
摘要
申请公布号 HU180618(B) 申请公布日期 1983.03.28
申请号 HU19800002818 申请日期 1980.11.26
申请人 "KISKUN" MTSZ,HU 发明人 KISS,FERENC,HU;FALUSI,VILIBALD,HU
分类号 G01R29/00;(IPC1-7):G01R29/00 主分类号 G01R29/00
代理机构 代理人
主权项
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