SEMICONDUCTOR MEMORY REDUNDANT ELEMENT IDENTIFICATION CIRCUIT.

摘要

Circuit de test (10) pour memoire a semi-conducteur. La memoire comprend un decodeur (70) pour la reception de signaux d'adresse (66, 68) qui est raccorde a un element de circuit redondant par l'intermediaire d'une ligne de signaux (72). Le decodeur redondant (70) peut etre programme en fonction de l'adresse d'un element de circuit defectueux, de telle sorte que lorsque le decodeur (70) est adresse par les signaux d'adresse (66, 68), il selecte un element de circuit redondant predetermine. Le circuit de test (10) produit un signal de sortie (14) indiquant que l'element de circuit choisit par le decodeur (70) est un element de circuit redondant. Le signal de sortie (14) est applique a un circuit indicateur (16) qui est place sur mode de test par un detecteur d'anomalies (26). La sortie (18) du circuit indicateur (16) est appliquee a une broche externe.