发明名称 DISPOSITIF POUR LA MESURE PRECISE D'UN CONTOUR D'UNE SURFACE A TROIS DIMENSIONS TELLE QU'UNE SURFACE OPTIQUE COMPLEXE
摘要 <P>LE DISPOSITIF SELON L'INVENTION FAIT INTERVENIR UN ARRANGEMENT D'AU MOINS QUATRE DISPOSITIFS DE MESURE DE DISTANCE 20 POSITIONNES SELON UNE CONFIGURATION POLYHEDRIQUE AU-DESSUS DE LA SURFACE A MESURER, CHAQUE SYSTEME DE MESURE FOURNISSANT DES MESURES A DISTANCE PAR RAPPORT A UN POINT DE MESURE 18 PROXIMAL A LA SURFACE, LORSQUE LE POINT DE MESURE EST DEPLACE SUR TOUT LE CONTOUR DE LA SURFACE, POUR OBTENIR LES DONNEES DE MESURE PERMETTANT DE DEFINIR LA GEOMETRIE DU SYSTEME ET LE CONTOUR DE LA SURFACE A TROIS DIMENSIONS.</P><P>L'INVENTION S'APPLIQUE NOTAMMENT AU SURFACAGE OPTIQUE CONTROLE PAR ORDINATEUR.</P>
申请公布号 FR2509458(A1) 申请公布日期 1983.01.14
申请号 FR19820011780 申请日期 1982.07.05
申请人 ITEK CORP 发明人 ALLEN H. GREENLEAF ET JOHN T. WATSON;WATSON JOHN T
分类号 G01B21/20;G01B11/03;G01B11/245;(IPC1-7):G01B11/24 主分类号 G01B21/20
代理机构 代理人
主权项
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