发明名称 APPAREIL DE RECHERCHE DE DEFAUTS POUR MATERIAUX EN BANDES LARGES
摘要 <P>LE LONG DE LA BANDE SOUMISE A L'ACTION DE LA LUMIERE, SONT DISPOSES PLUSIEURS DEVIATEURS DE LUMIERE SECONDAIRES 11A...I FAISANT PASSER PERIODIQUEMENT LES RAYONS LUMINEUX INCIDENTS SUR UNE ZONE DE BALAYAGE LINEAIRE, QUI, SOUS UN ANGLE A PAR RAPPORT A UNE LIGNE SUR LAQUELLE ILS SONT DISPOSES A UNE CERTAINE DISTANCE LES UNS DES AUTRES, RECOIVENT LES RAYONS 14 LUMINEUX EMANANT D'UN ELEMENT MAITRE DE REPRODUCTION OPTIQUE 13 ET DEVIENT EN DIRECTION DE LA BANDE CONTINUE DE MATERIAU 15 LA LUMIERE INCIDENTE DE TELLE SORTE QUE LA BANDE RECEVANT LA LUMIERE EST CONSTITUEE PAR DES BANDES PARTIELLES ELEMENTAIRES RECEVANT CHACUNE LES RAYONS LUMINEUX EMANANT D'UN DES DISPOSITIFS DEVIATEURS DE LUMIERE SECONDAIRES.</P>
申请公布号 FR2508642(A1) 申请公布日期 1982.12.31
申请号 FR19820011139 申请日期 1982.06.25
申请人 SICK GMBH OPTIK ELEKTRONIK ERWIN 发明人 ERWIN SICK
分类号 D06H3/00;G01N21/89;(IPC1-7):G01N21/88;G01M11/08 主分类号 D06H3/00
代理机构 代理人
主权项
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