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<P>L'INVENTION CONCERNE UN SYSTEME DEFLECTEUR DE FOCALISATION POUR UN FAISCEAU DE PARTICULES CHARGEES.</P><P>SELON L'INVENTION, IL COMPREND UNE LENTILLE MAGNETIQUE 1, DES ANNEAUX 3 EN MATERIAU MAGNETIQUE AGENCES CONCENTRIQUEMENT AVEC LA LENTILLE A L'INTERIEUR D'ELLE, EN ETANT DIVISE DANS LA DIRECTION DE L'AXE CENTRAL DE LA LENTILLE POUR FORMER UNE DISTRIBUTION PREDETERMINEE DU CHAMP MAGNETIQUE DE FOCALISATION; ET UN DEFLECTEUR ELECTROSTATIQUE EN UN ETAGE AYANT DES ELECTRODES DE DEVIATION 4 DIVISEES EN DIRECTION CIRCONFERENTIELLE DE LA LENTILLE, CONCENTRIQUES A L'INTERIEUR DE LA LENTILLE ET S'ETENDANT DANS LA DIRECTION DE L'AXE CENTRAL POUR FORMER UNE DISTRIBUTION PREDETERMINEE DU CHAMP ELECTROSTATIQUE DE DEVIATION, LE FAISCEAU DE PARTICULES CHARGEES PASSANT PAR LES ELECTRODES DE DEVIATION POUR ETRE DEVIE SELON LA TENSION APPLIQUEE A ELLE.</P><P>L'INVENTION S'APPLIQUE NOTAMMENT AUX TUBES A RAYONS CATHODIQUES, TUBES DE CAMERA DE TELEVISION, EQUIPEMENT DE TRAITEMENT DE FAISCEAUX D'ELECTRONS, EQUIPEMENT D'EXPOSITION AUX FAISCEAUX D'ELECTRONS, MICROSCOPES ELECTRONIQUES A BALAYAGE.</P>
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