| 发明名称 |
IONOPTISK APPARAT TIL UNDERSOEGELSE AF ET PROEVEEMNES OVERFLADEVED IONBESKYDNING OG ANALYSE AF DE FRA DET BESKUDTE OVERFLADEOMRAADE UDGAAENDE IONER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DK144898(C) |
申请公布日期 |
1982.11.22 |
| 申请号 |
DK19750001226 |
申请日期 |
1975.03.24 |
| 申请人 |
MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E |
发明人 |
HEILAND W;TAGLAUER E;GRUNDNER M |
| 分类号 |
G01N23/227;H01J37/252;H01J49/00;H01J49/44;(IPC1-7):H01J49/00 |
主分类号 |
G01N23/227 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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