发明名称 FACILITY FOR TESTING THE FLAT CONDUCTORS AND CORDS BY THE DEFECT TEST
摘要
申请公布号 CS216268(B1) 申请公布日期 1982.10.29
申请号 CS19800002020 申请日期 1980.03.24
申请人 BLANARIK,MIROSLAV,CS;BLATNICKY,JAN,CS;WUERFL,JOZEF,CS 发明人 BLANARIK,MIROSLAV,CS;BLATNICKY,JAN,CS;WUERFL,JOZEF,CS
分类号 G01N3/20;(IPC1-7):G01N3/20 主分类号 G01N3/20
代理机构 代理人
主权项
地址