发明名称 Method for a quick internal logic control on integrated circuits.
摘要 Eine Vorrichtung für eine rasche interne Logikprüfung an integrierten Schaltungen, wobei die Vorgänge auf allen Datenleitungen eines Busses gleichzeitig dargestellt werden können, besteht aus einem gepulsten Elektronenstrahl (12) als Meßsonde, einem Scan-Generator für den Positionswechsel dieser Meßsonde, einem Bewerter für das Potential-Kontrastsignal, einem Rechner (2) oder Logikanalysator zur Auswertung der Meßwerte und einer Ablaufsteuerung. Bei jeweils fester Phasenlage des Ablaufzyklus der integrierten Schaltung wird der gepulste Elektronenstrahl hintereinander auf verschiedene Meßstellen gerichtet, von jeder Meßstelle wird das Potential-Kontrastsignal registriert und logisch bewertet, die bei verschiedenen Phasenlagen gewonnenen Meßergebnisse werden an den Rechner oder Logikanalysator weitergegeben, und schließlich werden diese Meßergebnisse im Rechner oder Logikanalysator ausgewertet.
申请公布号 EP0060321(A1) 申请公布日期 1982.09.22
申请号 EP19810108597 申请日期 1981.10.20
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 FAZEKAS, PETER, DIPL.-ING.
分类号 G01R19/155;G01R31/305;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R19/155
代理机构 代理人
主权项
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