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发明名称
DEVICE FOR TESTING TRANSISTORS
摘要
申请公布号
SU947792(A1)
申请公布日期
1982.07.30
申请号
SU19802999882
申请日期
1980.10.31
申请人
RYSKIN EFIM Z,SU
发明人
RYSKIN EFIM Z,SU
分类号
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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