发明名称 DEVICE FOR TESTING TRANSISTORS
摘要
申请公布号 SU947792(A1) 申请公布日期 1982.07.30
申请号 SU19802999882 申请日期 1980.10.31
申请人 RYSKIN EFIM Z,SU 发明人 RYSKIN EFIM Z,SU
分类号 G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址