| 发明名称 |
TESTER FOR INSIDE OF DYNAMIC CIRCUIT FOR ELECTRONICALLY DIGITAL CIRCUIT ELEMENTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5760269(A) |
申请公布日期 |
1982.04.12 |
| 申请号 |
JP19810128272 |
申请日期 |
1981.08.18 |
| 申请人 |
SARAMASU ELECTONICS INC |
发明人 |
MIRAN SURAMUKA;MAMUDOO EICHI RATSUSEMU |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/319;H03K19/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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