发明名称 |
DETECTEUR A EMISSION SECONDAIRE DESTINE A L'ANALYSE D'ECHANTILLONS IRRADIES POUR MICROSCOPES ELECTRONIQUES A BALAYAGE ET MICROSONDES |
摘要 |
<P>DETECTEUR A EMISSION SECONDAIRE, DESTINE A L'ANALYSE D'ECHANTILLONS IRRADIES POUR MICROSCOPES ELECTRONIQUES A BALAYAGE ET MICROSONDES, ET COMPRENANT UN COLLECTEUR D'ELECTRONS, UN ACCELERATEUR D'ELECTRONS, UN SCINTILLATEUR, UN GUIDE DE LUMIERE ET UN PHOTOMULTIPLICATEUR DISPOSES SUIVANT UN TRAJET COURBE OU COUDE.</P><P>UN SPECTROMETRE 20 ET UNE ELECTRODE DE MODULATION 25 SONT MONTES ENTRE L'ACCELERATEUR 13 ET LE SCINTILLATEUR 24.</P><P>LE DETECTEUR SELON L'INVENTION PERMET L'UTILISATION EFFICACE DE MICROSCOPES ELECTRONIQUES A BALAYAGE ET DE MICROSONDES POUR L'ETUDE DE COMBUSTIBLES NUCLEAIRES IRRADIES ET AMELIORE LEUR GROSSISSEMENT.</P>
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申请公布号 |
FR2490832(A1) |
申请公布日期 |
1982.03.26 |
申请号 |
FR19810016159 |
申请日期 |
1981.08.24 |
申请人 |
EURATOM |
发明人 |
GIANCARLO GIACCHETTI, JURGEN RANSCH ET CLIVE THOMAS WALKER;RANSCH JURGEN;WALKER CLIVE THOMAS |
分类号 |
G01N23/22;G01Q30/02;G01T1/20;H01J37/244;(IPC1-7):G01T1/28;H01J37/24;H01J37/28 |
主分类号 |
G01N23/22 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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