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发明名称
DEVICE FOR MEASURING WIDTH OF FORBIDDEN ZONE IN SEMICONDUCTOR MATERIALS
摘要
申请公布号
SU911249(A1)
申请公布日期
1982.03.07
申请号
SU19802935081
申请日期
1980.06.03
申请人
KISHINEVSKIJ POLT I IM.S.LAZO
发明人
KOROTCHENKOV GENNADIJ S,SU
分类号
G01N21/17;(IPC1-7):G01N21/17
主分类号
G01N21/17
代理机构
代理人
主权项
地址
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