XXRAY ANALYSIS APPARATUS IN ELECTRONIC MICROSCOPE OR LIKE,申请号JP19760021105-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	XXRAY ANALYSIS APPARATUS IN ELECTRONIC MICROSCOPE OR LIKE
摘要
申请公布号	JPS52104865(A)	申请公布日期	1977.09.02
申请号	JP19760021105	申请日期	1976.03.01
申请人	HITACHI LTD	发明人	WATANABE TADAO;KUBOZOE MORIKI;SUNAKOZAWA SHIGETO
分类号	H01J37/244;H01J37/26	主分类号	H01J37/244
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

Vaina-estuche de seguridad para gafas

Perro grotesco de juguete

Interior de válvula perfeccionado

Nueva caja-envase

Nuevo portalámparas cerámico

Nueva jarra automática

Dispositivo para desplazar el diagrama de radiación de una antena de microondas sin necesidad de moverlas

Soporte para acondicionar lápices de labios

Descargador múltiple automático, especialmente para protección de instalaciones de comunicación

Cartucho para escopeta de caza con dispositivo trazador

Máquina fotográfica

Nuevo dispositivo de articulaciones de muelles entrelazados, aplicables a asientos en general

Nuevo gorro de visera, perfeccionado

ΚΕΡΜΑΤΟΔΟΧΟΣ ΑΥΤΟΜΑΤΟΥ ΔΙΑΝΟΜΗΣ.

UN PROCEDIMIENTO PARA OBTENER DE GLUMA DE ARROZ UN MATERIAL ININFLAMABLE, ANTIEXPLOSIVO Y REFRACTARIOSUSCEPTIBLE DE MuLTIPLES APLICACIONES

PERFECCIONAMIENTOS EN AMORTIGUADORES DE VEHiCULOS

PERFECCIONAMIENTOS EN O RELATIVOS A LA FUNDICIoN DE MATERIALES METALIFEROS

PROCEDIMIENTO Y MáQUINA PARA PRODUCCIoN DE ENERGiA ELÉCTRICA APROVECHANDO LA DEL MAR, POR REDUCCIoN A UN SOLO MOVIMIENTO DE SUS DOS IMPULSOS

PERFECCIONAMIENTOS EN EL DISPOSITIVO GUiA-HILO PARA UNA LANZADERA DE TELAR DE TEJER

Nuevo proyectil de metal duro