发明名称 APPAREIL ET PROCEDE POUR SUIVRE SANS CONTACT UNE CARACTERISTIQUE ELECTRIQUE TELLE QUE L'IMPEDANCE D'UNE SUBSTANCE PRESENTE DANS UN SITE CHOISI D'INVESTIGATION
摘要 <P>L'INVENTION CONCERNE UN APPAREIL ET UN PROCEDE POUR SUIVRE SANS CONTACT DES VARIATIONS DE L'IMPEDANCE D'UNE SUBSTANCE PRESENTE DANS UNE ZONE DETERMINEE D'INVESTIGATION.</P><P>CET APPAREIL COMPORTE UNE ANTENNE BIDIRECTIONNELLE 12 QUI PRODUIT UN FAISCEAU ELECTROMAGNETIQUE COMPORTANT DEUX FOYERS DONT L'UN EST PLACE A PROXIMITE IMMEDIATE DE LA ZONE D'INVESTIGATION. UN RECEPTEUR 14, PLACE A PROXIMITE DE L'AUTRE FOYER, EST CONTROLE AFIN QUE DES VARIATIONS DE CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES APPARAISSANT DANS CE RECEPTEUR 14 PUISSENT ETRE INTERPRETEES COMME DES INDICATIONS DE VARIATIONS D'IMPEDANCE APPARAISSANT DANS LA ZONE CHOISIE.</P><P>DOMAINE D'APPLICATION: DIAGNOSTICS MEDICAUX, RECHERCHE ET DETECTION DE DEFAUTS DANS DES PIECES METALLIQUES, ETC.</P>
申请公布号 FR2487521(A1) 申请公布日期 1982.01.29
申请号 FR19800016566 申请日期 1980.07.28
申请人 EMIT INC 发明人 TEX N. YUKL
分类号 A61B5/053;G01N22/00;G01N27/20;G01R27/06;(IPC1-7):G01N22/00;A61B5/05;G01D5/48;G01R29/08 主分类号 A61B5/053
代理机构 代理人
主权项
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