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发明名称 X-RAY SPECTROMETER FOR INVESTIGATING MONOCRYSTAL STRUCTURAL PERFECTION
摘要
申请公布号 SU898302(A1) 申请公布日期 1982.01.15
申请号 SU19802958773 申请日期 1980.05.16
申请人 INST KRISTALLOGRAFII IM. A.V. SHUBNIKOVA AN SSSR 发明人 IMAMOV RAFIK M,SU;KOVALCHUK MIKHAIL V,SU;MIRENSKIJ ANATOLIJ V,SU;SHILIN YURIJ N,SU;YAKIMOV SERGEJ S,SU
分类号 G01N23/207;(IPC1-7):G01N23/20 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
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