发明名称 Method and arrangement relating to inspection
摘要
申请公布号 EP1770006(B1) 申请公布日期 2008.09.10
申请号 EP20070100501 申请日期 2001.05.25
申请人 TAPIREN SURVEY SYSTEM AB 发明人 HARRIE, PER;FAGERHOLM, JOHAN;KURDVE, MICHAEL;LINDSJOE, JOHAN
分类号 B63B9/00;G01N21/88;B63B59/00;B63C11/00;B63C11/02;B63C11/26;B63C11/42;B63C11/48;G01S5/22;G01S15/74 主分类号 B63B9/00
代理机构 代理人
主权项
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