发明名称 SELECTEUR AUTOMATIQUE DE MODE D'ESSAI POUR MESURER LA DISTORSION INTERMODULATION
摘要 <P>SELECTEUR AUTOMATIQUE D'ANALYSEUR POUR MESURER LA DISTORSION INTERMODULATION, DANS LE BUT DE DETERMINER AUTOMATIQUEMENT SI L'ESSAI EN COURS RELEVE DE LA METHODE SMPTE OU DE LA METHODE CCIF, ET DE COMMUTER EN CONSEQUENCE LA SORTIE DE L'ANALYSEUR.</P><P>ON DETECTE LA TENEUR EN ENERGIE BASSE-FREQUENCE DU SIGNAL D'ESSAI ET ON LA COMPARE EN 70 AVEC UN NIVEAU DE REFERENCE 95 REPRESENTATIF DE LA TENEUR EN ENERGIE BASSE-FREQUENCE D'UN SIGNAL D'ESSAI CARACTERISTIQUE SMPTE. SI CETTE TENEUR EST SUPERIEURE AU NIVEAU DE REFERENCE, LE SIGNAL D'ESSAI EST TRAITE EN TANT QUE SIGNAL SMPTE DANS UN PREMIER CIRCUIT 20, 30, 35 ET 25. SI LA TENEUR PRECITEE EST INFERIEURE AU NIVEAU DE REFERENCE, LE SIGNAL EST TRAITE EN TANT QUE SIGNAL CCIF DANS UN DEUXIEME CIRCUIT 50, 60, LA COMMUTATION S'EFFECTUANT AUTOMATIQUEMENT EN 90.</P><P>APPLICATION AUX CIRCUITS NON LINEAIRES D'APPAREILS, NOTAMMENT A AUDIOFREQUENCE ET AUTRES.</P>
申请公布号 FR2480439(A1) 申请公布日期 1981.10.16
申请号 FR19810007642 申请日期 1981.04.10
申请人 TEKTRONIX INC 发明人 RICHARD C. CABOT ET BRUCE E. CABOT;CABOT BRUCE E
分类号 G01R23/20;G01R27/28;(IPC1-7):G01R17/00;G01R23/00;G01R29/00 主分类号 G01R23/20
代理机构 代理人
主权项
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