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Bei in Planartechnik ausgebildeten FET ist der pn-Übergang (11) zwischen n-Substrat (1) und p-dotierter Kanalzone (4) bei Anlegen einer Spannung in Durchlaßrichtung in Sperrichtung vorgespannt. An Krümmungen des pn-Übergangs (11) tritt im Substrat (1) eine Feldstärkeerhöhung auf. Wird der pn-Übergang (11) zusätzlich an der Oberfläche des Substrats (1) ungünstig ausgebildet, so kann es im Bereich von Krümmungen bereits bei Spannungswerten zum Oberflächendurchbruch kommen, die weit unterhalb der Durchbruchspannung im Inneren liegen. Dies läßt sich verbessern, indem die Kante so geformt ist, daß auf der Seite der negativ dotierten Zone (1, 3) im Bereich der Kanalzone (4) nur Winkeln <= 180° liegen. Die Kanalzone (4) kann zum Beispiel aus nicht miteinander verbundenen geraden Stücken (4 a, 4 b, 4 c, 4 d) bestehen. Die Erfindung ist zum Beispiel bei Hochvolt-MOS-FET anwendbar.
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