摘要 |
L'INVENTION CONCERNE UN APPAREIL ET UN PROCEDE PERFECTIONNES DESTINES A REALISER UN DOSAGE D'IONS COMPENSE EN TEMPERATURE.L'APPAREIL COMPREND UNE SONDE 10 PLACEE DANS UNE SOLUTION 13 DONT LE NIVEAU D'IONS (PAR EXEMPLE LE PH) DOIT ETRE MESURE. LA RESISTANCE AU COURANT ALTERNATIF DE LA SONDE 10 EST MESUREE D'UNE MANIERE N'AFFECTANT PAS UNE MESURE SIMULTANEE DU POTENTIEL CONTINU APPARAISSANT AUX BORNES DE CETTE SONDE 10. LE NIVEAU D'IONS DE LA SOLUTION, CORRIGE D'APRES LA TEMPERATURE DE CETTE SOLUTION, EST ENSUITE DERIVE A PARTIR DE CES DEUX MESURES, PUIS AFFICHE AU MOYEN D'UN DISPOSITIF 54.DOMAINE D'APPLICATION: MESURES DE PH. |