发明名称 METHODE DE PROTECTION DE CIRCUITS INTEGRES SEMI-CONDUCTEURS CONTRE LES PARTICULES ALPHA ET DISPOSITIFS OBTENUS
摘要 <P>Méthode de protection de circuits intégrés tel que les mémoires vives à accès sélectif contre les particules alpha, dans le but d'éliminer les erreurs fugitives dues à des particules de 4 à 8 MeV provenant notamment de traces d'uranium ou de thorium dans le matériau d'encapsulation des circuits. <BR/> Elle consiste à recouvrir la surface active de la puce de matériau semi-conducteur 11 sur laquelle sont formés les circuits, par une couche 17 d'un polymère organique d'épaisseur suffisante (20 à 100 mu m) pour absorber les particules alpha. La couche 17 est de préférence formée d'une résine imide liquide, polymérisable à chaud ou par exposition à un faisceau d'ultra-violets ou d'électrons, qui reste stable pendant les traitements thermiques ultérieurs, notamment à la température de 400 degrés C nécessaire pour le scellement du couvercle 18 sur l'embase 15 d'un boîtier en céramique. <BR/> Application particulière aux mémoires à accès sélectif de 16 à 64 x 1024 éléments binaires. <BR/> (CF DESSIN DANS BOPI)<BR/> <BR/></P>
申请公布号 FR2473788(A1) 申请公布日期 1981.07.17
申请号 FR19810000284 申请日期 1981.01.09
申请人 ITT INDUSTRIES 发明人 PATRICK JOSEPH AUGUSTINE MCKEOWN, JOSEPH PALEN PERRY, JAMES MACLAGAN WADDELL ET KENNETH DINSDALE BARKER
分类号 H01L23/29;H01L21/26;H01L21/312;H01L23/31;H01L23/556 主分类号 H01L23/29
代理机构 代理人
主权项
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