MEASURING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT,申请号JP19790144629-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	MEASURING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT
摘要
申请公布号	JPS5667771(A)	申请公布日期	1981.06.08
申请号	JP19790144629	申请日期	1979.11.07
申请人	MITSUBISHI ELECTRIC CORP	发明人	KAWAGUCHI KATSUJI
分类号	G01R31/26;H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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