PROCEDE ET APPAREIL DE MESURE DE L'EPAISSEUR D'UNE COUCHE SUPERFICIELLE DANS UNE PIECE METALLIQUE

摘要

L'invention concerne un procédé et un appareil permettant de mesurer l'épaisseur d'une couche superficielle d'une pièce métallique.

On fait passer un courant constant dans la pièce 1 et il s'établit à sa surface une distribution de potentiel qui dépend de l'épaisseur de la couche superficielle. La mesure de la différence de potentiel entre deux points, puis la comparaison avec une série de valeurs de référence obtenues dans des conditions identiques pour des épaisseurs connues permettent d'obtenir l'épaisseur cherchée. L'appareil de mesure comprend un générateur 3 de courant continu alimentant deux électrodes 2, et un micro-voltmètre 5 connecté à deux électrodes de mesure 4.

Application à la vérification de pièces produites en grandes séries.