TEST UNIT FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT,申请号JP19790113931-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	TEST UNIT FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPS5637572(A)	申请公布日期	1981.04.11
申请号	JP19790113931	申请日期	1979.09.05
申请人	TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO	发明人	KITAGAWA KAZUO
分类号	G01R31/26;H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
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